Effect of coplanar probe pad design on noise figures of 0.35 μm MOSFETs

C. Y. Su*, L. P. Chen, S. J. Chang, G. W. Huang, Y. P. Ho, B. M. Tseng, D. C. Lin, H. Y. Lee, J. F. Kuan, Y. M. Deng, C. L. Chen, L. Y. Leu, Kuei-Ann Wen, C. Y. Chang

*此作品的通信作者

    研究成果: Article › 同行評審

    4 引文 斯高帕斯（Scopus）

    指紋

    深入研究「Effect of coplanar probe pad design on noise figures of 0.35 μm MOSFETs」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Engineering & Materials Science