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Edge diffraction induced near-field contrast in subwavelength structures
Hsieh Li Chou,
Yi-Chun Chen
, Pei Kuen Wei
影像與生醫光電研究所
研究成果
:
Conference contribution
›
同行評審
總覽
指紋
指紋
深入研究「Edge diffraction induced near-field contrast in subwavelength structures」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Near-field
100%
Subwavelength Structures
100%
Edge Diffraction
100%
Optical Near Field
100%
Dielectric
33%
Finite-difference Time-domain Method
33%
High Polarization
33%
Subwavelength
33%
Optical Microscopy
33%
Dielectric Structure
33%
Near-field Distribution
33%
Polarization Anisotropy
33%
Collection Mode
33%
Air Dielectric
33%
Near-field Polarization
33%
Physics
Dielectric Material
100%
Finite Difference Time Domain Method
50%
Anisotropy
50%
Material Science
Dielectric Material
100%
Anisotropy
50%
Finite Difference Method
50%