Dimensional effects on the reliability of polycrystalline silicon thin-film transistors

Hsiao-Wen Zan*, P. S. Shih, T. C. Chang, C. Y. Chang

*此作品的通信作者

研究成果: Article同行評審

1 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Dimensional effects on the reliability of polycrystalline silicon thin-film transistors」主題。共同形成了獨特的指紋。