Dimensional effects on the reliability of polycrystalline silicon thin-film transistors

Hsiao-Wen Zan*, P. S. Shih, T. C. Chang, C. Y. Chang

*此作品的通信作者

研究成果: Article同行評審

1 引文 斯高帕斯(Scopus)
原文English
頁(從 - 到)1479-1483
頁數5
期刊Microelectronics Reliability
40
發行號8-10
DOIs
出版狀態Published - 1 1月 2000

引用此