Design of on-chip power-rail ESD clamp circuit with ultra-small capacitance to detect ESD transition

Shih Hung Chen*, Ming-Dou Ker

*此作品的通信作者

    研究成果: Conference contribution › 同行評審

    3 引文 斯高帕斯（Scopus）

    指紋

    深入研究「Design of on-chip power-rail ESD clamp circuit with ultra-small capacitance to detect ESD transition」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Engineering & Materials Science