Design of ESD protection diodes with embedded scr for differential LNA in a 65-nm CMOS Process

Chun Yu Lin*, Mei Lian Fan

*此作品的通信作者

研究成果: Article › 同行評審

13 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Design of ESD protection diodes with embedded scr for differential LNA in a 65-nm CMOS Process」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Engineering

Material Science