DEPENDENCE OF THE UPPER CRITICAL FIELD AND CRITICAL CURRENT ON RESISTIVITY IN NbN THIN FILMS.
Jenh-Yih Juang*, D. A. Rudman, R. B. van Dover, W. R. Sinclair, D. D. Bacon
*此作品的通信作者
研究成果: Conference contribution › 同行評審
9
引文
斯高帕斯（Scopus）