Defect Inspection Techniques in SiC

Po Chih Chen, Wen Chien Miao, Tanveer Ahmed, Yi Yu Pan, Chun Liang Lin, Shih Chen Chen, Hao Chung Kuo, Bing Yue Tsui, Der Hsien Lien*

*此作品的通信作者

研究成果: Review article同行評審

2 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Defect Inspection Techniques in SiC」主題。共同形成了獨特的指紋。

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