Cross-sectional transmission electron microscopy of silicon-silicide interfaces

F. Föll*, P. S. Ho, King-Ning Tu

*此作品的通信作者

研究成果: Article同行評審

111 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Cross-sectional transmission electron microscopy of silicon-silicide interfaces」主題。共同形成了獨特的指紋。

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