Counting statistics in nanoscale junctions

Yu Shen Liu*, Yu-Chang Chen

*此作品的通信作者

研究成果: Article同行評審

6 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Counting statistics in nanoscale junctions」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Physics

Chemistry

Engineering

Material Science