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Construction of a near-field spectrum analysis system using bent tapered fiber probes
Sy Hann Chen
*
,
Yung-Fu Chen
*
此作品的通信作者
電子物理學系
研究成果
:
Article
›
同行評審
3
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Construction of a near-field spectrum analysis system using bent tapered fiber probes」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Spectral Analysis
100%
Bending Angle
100%
Near-field
100%
Optical Fiber Probe
100%
Field Spectra
100%
Bent Fiber
100%
Tapered Probes
100%
Spatial Resolution
50%
Atomic Force Microscope
50%
Laser Heating
50%
Transmission Efficiency
50%
Pd Film
50%
Dynamic Mode
50%
Ion Sputtering
50%
Tip Radius
50%
Pt-Pd
50%
Nanometre
50%
Electric Arc
50%
Laser Pulling
50%
Engineering
Systems Analysis
100%
Tapered Fiber
100%
Atomic Force Microscope
50%
Laser Heating
50%
Nanometre
50%
Thin Layer
50%
Spatial Resolution
50%
Mode Dynamic
50%
Tip Diameter
50%
Electric Arc
50%