Comprehensive Investigations of HBM ESD Robustness for GaN-on-Si RF HEMTs

  • S. Abhinay*
  • , W. M. Wu
  • , C. A. Shih
  • , S. H. Chen
  • , A. Sibaja-Hernandez
  • , B. Parvais
  • , U. Peralagu
  • , A. Alian
  • , T. L. Wu
  • , M. D. Ker
  • , G. Groeseneken
  • , N. Collaert
    • *此作品的通信作者

研究成果: Conference contribution › 同行評審

3 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Comprehensive Investigations of HBM ESD Robustness for GaN-on-Si RF HEMTs」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

Keyphrases

Engineering