Complementary-LVTSCR ESD protection scheme for submicron CMOS IC's

Ming-Dou Ker*, Chung-Yu Wu, Hun Hsien Chang, Tao Cheng, Tain Shun Wu

*此作品的通信作者

研究成果: Conference article同行評審

13 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Complementary-LVTSCR ESD protection scheme for submicron CMOS IC's」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Engineering