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Comparative leakage analysis of GeOI FinFET and Ge bulk FinFET

  • Vita Pi Ho Hu
  • , Ming Long Fan
  • , Pin Su
  • , Ching Te Chuang

研究成果: Article › 同行評審

24 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Comparative leakage analysis of GeOI FinFET and Ge bulk FinFET」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

Keyphrases

Engineering

Earth and Planetary Sciences

Physics