Compact Modeling of Impact Ionization in High-Voltage Devices

Garima Gill*, Anant Singhal, Girish Pahwa, Chenming Hu, Harshit Agarwal

*此作品的通信作者

研究成果: Article同行評審

3 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Compact Modeling of Impact Ionization in High-Voltage Devices」主題。共同形成了獨特的指紋。

Chemical Compounds

Engineering & Materials Science