Compact and low-loss ESD protection design for V-band RF applications in a 65-nm CMOS technology

Li Wei Chu*, Chun Yu Lin, Shiang Yu Tsai, Ming-Dou Ker, Ming Hsiang Song, Chewn Pu Jou, Tse Hua Lu, Jen Chou Tseng, Ming Hsien Tsai, Tsun Lai Hsu, Ping Fang Hung, Tzu Heng Chang

*此作品的通信作者

    研究成果: Paper › 同行評審

    2 引文 斯高帕斯（Scopus）

    指紋

    深入研究「Compact and low-loss ESD protection design for V-band RF applications in a 65-nm CMOS technology」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Engineering & Materials Science