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Comment on 'Electron-phonon scattering in Sn-doped In2O 3 FET nanowires probed by temperature-dependent measurements'
Juhn-Jong Lin
*
, Chih Yuan Wu
*
此作品的通信作者
物理研究所
研究成果
:
Comment/debate
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指紋
指紋
深入研究「Comment on 'Electron-phonon scattering in Sn-doped In2O 3 FET nanowires probed by temperature-dependent measurements'」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Nanowires
100%
Electron-phonon Scattering
100%
Sn Doping
100%
Indium Oxide
100%
Temperature-dependent Measurement
100%
Transport Behavior
50%
Nanotechnology
50%
Electrical Transport
50%
Electrical Quantities
50%
Material Science
Nanowire
100%
Field Effect Transistor
100%
Oxide Compound
50%
Indium
50%
Engineering
Field Effect Transistor
100%
Nanowire
100%
Electrical Quantity
50%