CMOS power amplifier with ESD protection design merged in matching network

Yu D. Shiu*, Bo Shih Huang, Ming-Dou Ker

*此作品的通信作者

    研究成果: Conference contribution › 同行評審

    6 引文 斯高帕斯（Scopus）

    指紋

    深入研究「CMOS power amplifier with ESD protection design merged in matching network」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Keyphrases

    Engineering

    Material Science