Circuit solutions on ESD protection design for mixed-voltage I/O buffers in nanoscale CMOS

Ming-Dou Ker*, Chang Tzu Wang

*此作品的通信作者

    研究成果: Conference contribution › 同行評審

    3 引文 斯高帕斯（Scopus）

    指紋

    深入研究「Circuit solutions on ESD protection design for mixed-voltage I/O buffers in nanoscale CMOS」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Keyphrases

    Engineering

    Material Science