Characterization on ESD devices with test structures in silicon Germanium RF BiCMOS process

Ming-Dou Ker*, Woei Lin Wu, Chyh Yih Chang

*此作品的通信作者

    研究成果: Paper › 同行評審

    1 引文 斯高帕斯（Scopus）

    指紋

    深入研究「Characterization on ESD devices with test structures in silicon Germanium RF BiCMOS process」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Engineering & Materials Science