Characterization of Double HfZrO2based FeFET toward Low-Voltage Multi-Level Operation for High Density Nonvolatile Memory

  • Z. F. Lou
  • , C. Y. Liao
  • , K. Y. Hsiang
  • , C. Y. Lin
  • , Y. D. Lin
  • , P. C. Yeh
  • , C. Y. Wang
  • , H. Y. Yang
  • , P. J. Tzeng
  • , T. H. Hou
  • , Y. T. Tang*
  • , M. H. Lee*
    • *此作品的通信作者

研究成果: Conference contribution › 同行評審

3 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Characterization of Double HfZrO2based FeFET toward Low-Voltage Multi-Level Operation for High Density Nonvolatile Memory」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

Keyphrases

Material Science