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Characteristics variability of novel lateral asymmetry nano-MOSFETs due to random discrete dopant

  • Kou Fu Lee*
  • , Chih Hong Hwang
  • , Tien Yeh Li
  • , Yi-Ming Li
  • *此作品的通信作者

研究成果: Conference contribution同行評審

指紋

深入研究「Characteristics variability of novel lateral asymmetry nano-MOSFETs due to random discrete dopant」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

Keyphrases

Engineering

Material Science