Characteristics of PBTI and hot carrier stress for LTPS-TFT with high-κ gate dielectric
Ming Wen Ma*, Chih Yang Chen, Chun Jung Su, Woei Cherng Wu, Yi Hong Wu, Kuo Hsing Kao, Tien-Sheng Chao, Tan Fu Lei
*此作品的通信作者
研究成果: Article › 同行評審
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引文
斯高帕斯（Scopus）