Characteristics of gate-all-around twin poly-Si nanowire thin-film transistors

Jeng-Tzong Sheu*, Po Chun Huang, Tzu Shiun Sheu, Chen Chia Chen, Lu An Chen

*此作品的通信作者

研究成果: Article › 同行評審

29 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「Characteristics of gate-all-around twin poly-Si nanowire thin-film transistors」主題。共同形成了獨特的指紋。

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