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Challenges and designs of TFET for digital applications
Ming Long Fan, Yin Nien Chen,
Pin Su
*
, Ching Te Chuang
*
此作品的通信作者
研究成果
:
Chapter
›
同行評審
5
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Challenges and designs of TFET for digital applications」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Digital Applications
100%
Logic Circuit
100%
Performance Improvement
50%
Circuit Design
50%
MOSFET
50%
Performance Enhancement
50%
Circuit Performance
50%
Device Design
50%
Digital Circuit Design
50%
Compact Circuits
50%
Back-gate Bias
50%
Miller Capacitor
50%
Design Improvement
50%
8T SRAM Cell
50%
Unidirectional Conduction
50%
SRAM Circuit
50%
Innovation Design
50%
Structural Innovation
50%
Structural Devices
50%
Engineering
Circuit Design
100%
Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor
100%
Performance Improvement
100%
Logic Circuit
100%
Circuit Performance
100%
Miller Capacitance
100%
Digital Electronics
100%