跳至主導覽
跳至搜尋
跳過主要內容
國立陽明交通大學研發優勢分析平台 首頁
English
中文
首頁
人員
單位
研究成果
計畫
獎項
活動
貴重儀器
影響
按專業知識、姓名或所屬機構搜尋
Atomic Layer Deposition Plasma-Based Undoped-HfO
2
Ferroelectric FETs for Non-Volatile Memory
Jun Dao Luo
, Yu Ying Lai
, Kuo Yu Hsiang
, Chia Feng Wu
, Hao Tung Chung
, Wei Shuo Li
, Chun Yu Liao
, Pin Guang Chen
,
Kuan Neng Chen
, Min Hung Lee
*
, Huang Chung Cheng
*
此作品的通信作者
國立陽明交通大學
智慧半導體奈米系統技術研究中心
電子研究所
研究成果
:
Article
›
同行評審
22
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「Atomic Layer Deposition Plasma-Based Undoped-HfO
2
Ferroelectric FETs for Non-Volatile Memory」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
Undoped
100%
Non-volatile Memory
100%
Atomic Layer Deposition
100%
Ferroelectric Field-effect Transistor (FeFET)
100%
Undoped HfO2
100%
Ferroelectric HfO2
66%
Dopant
33%
Plasma-enhanced Atomic Layer Deposition (PEALD)
33%
Orthorhombic Phase
33%
V(V)
33%
Effective Approach
33%
Memory Window
33%
O2 Plasma
33%
Storage Characteristics
33%
Data Retention
33%
Ferroelectric Phase
33%
HfO2 Thin Films
33%
Metal Structure
33%
Phase Formation
33%
Metal-ferroelectric-metal
33%
Remnant Polarization
33%
Endurance Cycle
33%
Post Metal Annealing
33%
Successful Integration
33%
Engineering
Field Effect Transistor
100%
Atomic Layer Deposition
100%
Nonvolatile Memory
100%
Dopants
25%
Thin Films
25%
Effective Approach
25%
Data Retention
25%
Phase Formation
25%
Material Science
Ferroelectric Material
100%
Field Effect Transistor
100%
Plasma Deposition
100%
Doping (Additives)
16%
Thin Films
16%