Analysis of the Gate Capacitance-Voltage Characteristics in p-GaN/AlGaN/GaN Heterostructures
- Tian-Li Wu*
- , Benoit Bakeroot
- , Hu Liang
- , Niels Posthuma
- , Shuzhen You
- , Nicolò Ronchi
- , Steve Stoffels
- , Denis Marcon
- , Stefaan Decoutere
*此作品的通信作者
研究成果: Article › 同行評審
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引文
斯高帕斯（Scopus）