Analysis of narrow width effects in polycrystalline silicon thin film transistors

Hsiao-Wen Zan*, Ting Chang Chang, Po Sheng Shih, Du Zen Peng, Tiao Yuan Huang, Chun Yen Chang

*此作品的通信作者

研究成果: Article同行評審

14 引文 斯高帕斯(Scopus)

指紋

深入研究「Analysis of narrow width effects in polycrystalline silicon thin film transistors」主題。共同形成了獨特的指紋。

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