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國立陽明交通大學研發優勢分析平台 首頁
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An improved measure of quality loss for notching processes
Chia-Huang Wu
, Ya Chen Hsu
*
,
Wen Lea Pearn
*
此作品的通信作者
工業工程與管理學系
研究成果
:
Article
›
同行評審
9
引文 斯高帕斯(Scopus)
總覽
指紋
指紋
深入研究「An improved measure of quality loss for notching processes」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Business & Economics
Packaging
100%
Integrated Circuits
84%
Printed Circuit Board
82%
Sample Size
80%
Substrate
57%
Inspection
57%
Estimator
47%
Quality Assessment
46%
Parametric Bootstrap
44%
Process Parameters
39%
Semiconductors
38%
Process Capability
36%
Connectivity
33%
Numerical Simulation
31%
Manpower
30%
Manufacturing
27%
Decision Making
25%
Product Quality
24%
Confidence
23%
Engineering & Materials Science
Packaging
79%
Printed circuit boards
58%
Integrated circuits
54%
Inspection
44%
Substrates
41%
Semiconductor materials
26%
Decision making
21%
Composite materials
17%
Networks (circuits)
16%
Computer simulation
16%
Hot Temperature
14%