An accurate RF CMOS gate resistance model compatible with HSPICE

H. W. Lin*, Steve S. Chung, S. C. Wong, G. W. Huang

*此作品的通信作者

    研究成果: Paper同行評審

    6 引文 斯高帕斯(Scopus)

    指紋

    深入研究「An accurate RF CMOS gate resistance model compatible with HSPICE」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Engineering & Materials Science