A new failure mechanism on analog I/O cell under ND-mode ESD stress in deep-submicron CMOS technology
- Shih Hung Chen*
- , Ming-Dou Ker
- , Che Hao Chuang
*此作品的通信作者
研究成果: Paper › 同行評審
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引文
斯高帕斯（Scopus）