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A new and simple DC method for thermal-resistance extraction of scaled FinFET devices
Wei Cheng Huang
*
,
Pin Su
*
此作品的通信作者
電子研究所
智慧半導體奈米系統技術研究中心
研究成果
:
Conference contribution
›
同行評審
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指紋
指紋
深入研究「A new and simple DC method for thermal-resistance extraction of scaled FinFET devices」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Keyphrases
FinFET Devices
100%
Thermal Resistance
100%
Resistance Extraction
100%
DC Method
100%
Chuck
50%
Temperature Rise
50%
Fin Field-effect Transistor (FinFET)
50%
Transconductance
50%
Drain Resistance
50%
Self-heating
50%
Temperature Sensor
50%
DC Measurements
50%
Device Temperature
50%
Measurement Method
50%
Resistance Effect
50%
Special Tests
50%
Engineering
Heat Resistance
100%
Test Structure
50%
Temperature Rise
50%
Thermal Sensor
50%
Isolation Method
50%