A latchup-immune and robust SCR device for ESD protection in 0.25-μ m 5-V CMOS process

Yu Ching Huang, Ming-Dou Ker

    研究成果: Article › 同行評審

    37 引文 斯高帕斯（Scopus）

    指紋

    深入研究「A latchup-immune and robust SCR device for ESD protection in 0.25-μ m 5-V CMOS process」主題。共同形成了獨特的指紋。

    Keyphrases

    Engineering

    Computer Science

    Material Science