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A dopant-related defect in Te-doped AIInP

  • Yu Rue Wu*
  • , Wei Jer Sung
  • , Tzu Chi Wen
  • , Shih Chang Lee
  • , Wei-I Lee
    • *此作品的通信作者

研究成果: Article › 同行評審

4 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「A dopant-related defect in Te-doped AIInP」主題。共同形成了獨特的指紋。
排序方式

Keyphrases

Chemical Engineering

Material Science