A dopant-related defect in Te-doped AIInP

Yu Rue Wu*, Wei Jer Sung, Tzu Chi Wen, Shih Chang Lee, Wei-I Lee

*此作品的通信作者

研究成果: Article › 同行評審

4 引文 斯高帕斯（Scopus）

指紋

深入研究「A dopant-related defect in Te-doped AIInP」主題。共同形成了獨特的指紋。

Keyphrases

Chemical Engineering

Material Science