A comprehensive study of single-electron effects in multiple-gate MOSFETs

Wei Lee*, Pin Su

*此作品的通信作者

    研究成果: Conference contribution同行評審

    原文English
    主出版物標題IEEE 2008 Silicon Nanoelectronics Workshop, SNW 2008
    DOIs
    出版狀態Published - 2008
    事件IEEE 2008 Silicon Nanoelectronics Workshop, SNW 2008 - Honolulu, HI, 美國
    持續時間: 15 6月 200816 6月 2008

    出版系列

    名字IEEE 2008 Silicon Nanoelectronics Workshop, SNW 2008

    Conference

    ConferenceIEEE 2008 Silicon Nanoelectronics Workshop, SNW 2008
    國家/地區美國
    城市Honolulu, HI
    期間15/06/0816/06/08

    引用此