Wei-Zen Chen (Inventor)
研究成果: Patent
}
TY - PAT
T1 - 資料錯誤率量測裝置及其偽隨機碼產生器
AU - Chen, Wei-Zen
PY - 2007/2/21
Y1 - 2007/2/21
M3 - Patent
M1 - I274250
ER -