專利評價與損害賠償

Shang-Jyh Liu, 李 偉綺, 呂 柔慧

研究成果: Book同行評審

摘要

 無形資產的評價,兼具科技、法律與市場的不確定性,專利尤其如此。損害賠償是專利價值的體現,也是完善專利制度的最後一哩路。評價與損害賠償為一體的兩面,是落實專利資產創造及交易的指標,也是專利制度在學理、實務及審判上亟需合致且可合理期待的關鍵課題。
  
  本書透過科際整合及比較法之討論,結合台、美、德、日之法律理論、實務及實證經驗,將專利損害賠償之法理架構、計算方法及實際案例整合呈現。
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發行者元照出版有限公司
頁數368
ISBN(列印)9789578607446
出版狀態Published - 1 4月 2018

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