Chih Chen (Inventor)
研究成果: Patent
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TY - PAT
T1 - 凸塊接點之電阻測量結構及包含其之封裝基板
AU - Chen, Chih
PY - 2014/6/1
Y1 - 2014/6/1
M3 - Patent
M1 - I439704
ER -