Yi-Hsin Lin (Inventor)
研究成果: Patent
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TY - PAT
T1 - 具有液晶聚合物薄膜之檢測裝置及檢測方法
AU - Lin, Yi-Hsin
PY - 2014/9/21
Y1 - 2014/9/21
M3 - Patent
M1 - I453410
ER -