Wei-Zen Chen (Inventor)
研究成果: Patent
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TY - PAT
T1 - 具有增益校正之鎖相迴路、用於鎖相迴路之增益量測方法、校正方法及抖動量測方法
AU - Chen, Wei-Zen
PY - 2015/7/11
Y1 - 2015/7/11
M3 - Patent
M1 - I492545
ER -