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區域卷積神經網路機器視覺演算法改良研究與工業4.0之應用-以偏光片瑕疵檢測為例
Lee, Shin-Jye
(PI)
科技管理研究所
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專案詳細資料
狀態
已完成
有效的開始/結束日期
1/08/20
→
31/07/21
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