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個人檔案
研究專長
半導體元件模式與模擬、電路模擬與設計最佳化、顯示、生醫與能源電子
計算(計算科學與工程、數值、演化計算)
數學(問題建模、微分方程、最佳化理論)
物理(奈米半導體材料、量子、與固態物理)
奈米元件設計、模擬與分析
半導體奈米結構物理與模擬
晶體電子結構量子力學計算
電晶體等效模型暨參數萃取
電路模擬器理論與程式開發
經歷
1995/6~1995/12 國立交通大學電子與資訊研究中心研究副教授/助理教授
國科會國家奈米元件實驗室副研究員/組長
美國麻州大學Amherst校區電機資訊工程學系訪問助理教授
工業技術研究院系統晶片中心顧問
美國加州矽谷Lovoltech Inc總經理室顧問
瑞士商ISE台灣分公司總經理室顧問
國立交通大學電信工程學系副教授
國立交通大學電機系教授
國家實驗研究院國家奈米元件實驗室研究員
國家實驗研究院國家奈米元件實驗室副主任
教育/學術資格
PhD, 電機工程, 國立陽明交通大學
外部位置
指紋
查看啟用 Yi-Ming Li 的研究主題。這些主題標籤來自此人的作品。共同形成了獨特的指紋。
- 1 類似的個人檔案
過去五年中的合作和熱門研究領域
國家/地區層面的近期外部共同作業。按一下圓點深入探索詳細資料，或
專案
- 20 已完成
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垂直堆疊全閘極奈米片互補式場效應電晶體特性擾動及其機器學習建模之研究
Li, Y.-M. (PI)
1/08/22 → 31/07/23
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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A世代技術節點之先進高密度/高性能電晶體開發(2/2)
Li, Y.-M. (PI)
1/08/22 → 30/04/23
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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A世代技術節點之先進高密度/高性能電晶體開發(1/2)
Li, Y.-M. (PI)
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研究計畫: Other Government Ministry Institute
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全閘極場效應電晶體暨負電容元件特性擾動及其深度學習建模之研究
Li, Y.-M. (PI)
1/08/21 → 31/07/22
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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先進三維度多通道垂直堆疊奈米線(片)全閘極場效應電晶體暨多電疇鐵電材料負電容元件特性擾動及其在電路操作變異影響之研究
Li, Y.-M. (PI)
1/08/20 → 31/07/21
研究計畫: Other Government Ministry Institute
-
A Device-Physics-Informed Artificial Neural Network Approach for Thermal-Aware I-V and C-V Modeling of GAA FETs
Tai, Y., Li, Y. & Chuang, M. H., 2026, 於: IEEE Access. 14, p. 67674-67686 13 p.研究成果: Article › 同行評審
開啟存取 -
Bismuth Confinement: A Strategy for Low Resistance and Good Thermal Endurance of Integrated Contacts to MoS2
Wu, W. C., Hung, T. Y. T., Hsueh, F. K., Liu, B. H., Yun, W. S., Chung, Y. Y., Wang, Y. C., Lin, Z. R., Li, M. Z., Jian, Z. S., Hsu, S. H., Tsai, J. C., Chen, J. H., Chen, C. W., Li, Y., Chang, W. H., Woon, W. Y., Kei, C. C., Hou, T. H. & Cheng, C. C. 及其他2, , 31 3月 2026, 於: ACS Nano. 20, 12, p. 9817-9827 11 p.研究成果: Article › 同行評審
開啟存取3 引文 斯高帕斯（Scopus） -
Radio-frequency variability of GAA Si NS CFETs induced by PVE and IPF simultaneously
Kola, S. R., Chuang, M. H. & Li, Y., 4月 2026, 於: Solid-State Electronics. 233, 109326.研究成果: Article › 同行評審
開啟存取 -
Damage-Free Neutral Beam Etching for Gate Recess in E-Mode AlGaN/GaN HEMTs
Chen, Y. H., Chu, F. C., Aslam, M., Lee, Y.-J., Li, Y. & Samukawa, S., 2025, 於: IEEE Electron Device Letters. 46, 5, p. 705-708 4 p.研究成果: Article › 同行評審
4 引文 斯高帕斯（Scopus） -
DC/AC/RF Characteristic Fluctuation of N-Type Bulk FinFETs Induced by Random Interface Traps
Kola, S. R. & Li, Y., 10月 2025, 於: Processes. 13, 10, 3103.研究成果: Article › 同行評審
開啟存取1 引文 斯高帕斯（Scopus）
獎項
活動
- 1 Invited talk