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查看斯高帕斯 (Scopus) 概要
吳 耀銓
教授
材料科學與工程學系
智慧半導體奈米系統技術研究中心
https://orcid.org/0000-0003-3333-9505
電話
03-51-31555#55378
電子郵件
sermonwu
faculty.nctu.edu
tw
網站
https://yswlab.nctu.edu.tw/
h-index
h10-index
h5-index
1396
引文
18
h-指數
按照存儲在普爾(Pure)的出版物數量及斯高帕斯(Scopus)引文計算。
317
引文
11
h-指數
按照存儲在普爾(Pure)的出版物數量及斯高帕斯(Scopus)引文計算。
118
引文
6
h-指數
按照存儲在普爾(Pure)的出版物數量及斯高帕斯(Scopus)引文計算。
1990 …
2023
每年研究成果
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指紋
網路
計畫
(19)
研究成果
(179)
類似的個人檔案
(9)
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指紋
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排序方式
重量
按字母排序
Engineering & Materials Science
Crystallization
100%
Polysilicon
84%
Light emitting diodes
79%
Sapphire
78%
Thin film transistors
63%
Substrates
59%
Metals
50%
Wafer bonding
46%
Amorphous silicon
41%
Nickel
35%
Annealing
28%
Oxides
26%
Electric properties
24%
Tin oxides
24%
Etching
22%
Indium
20%
Temperature
18%
Wet etching
16%
Luminance
16%
Nanorods
16%
Thin films
16%
Leakage currents
15%
Electroless plating
14%
Lasers
14%
Mirrors
14%
Silicon
13%
Defects
12%
Plasmas
12%
Nanostructures
12%
Optical losses
11%
Rapid thermal annealing
11%
Fluorine
10%
Passivation
10%
Epitaxial growth
9%
Precipitates
9%
Harmonic generation
9%
Masks
9%
Excimer lasers
9%
Crystals
8%
Hydrogen
8%
Ultraviolet radiation
8%
Nucleation
7%
Nanocomposites
7%
Phosphorus
7%
Gases
7%
Silver
7%
Gold nanoparticles
7%
Nanopillars
7%
Contamination
7%
Polishing
7%
Physics & Astronomy
light emitting diodes
45%
crystallization
43%
transistors
26%
wafers
25%
amorphous silicon
23%
metals
23%
thin films
23%
sapphire
21%
performance
21%
nickel
20%
silicon films
19%
silicon
16%
annealing
15%
oxides
11%
indium oxides
11%
tin oxides
10%
leakage
10%
etching
10%
plating
9%
nanorods
9%
mirrors
7%
thermal stability
7%
pyramids
7%
electrical properties
6%
laser annealing
6%
phosphorus
6%
output
6%
defects
5%
vapor deposition
5%
lasers
5%
luminance
5%
temperature
5%
abrasives
5%
short circuits
5%
healing
5%
Chemical Compounds
Crystallization
27%
Polycrystalline Solid
26%
Etching
24%
Liquid Film
22%
Amorphous Silicon
21%
Gettering
20%
Leakage Current
12%
Surface
11%
Nanorod
9%
Electrical Property
9%
Annealing
9%
Interfacial Defect
8%
Epitaxial Growth
8%
Solder
8%
Pyramidal Crystal
7%
Polishing
7%
Second-Harmonic Generation
7%
Nanomaterial
7%
Oxide
6%
Nanopillar
6%
Compound Mobility
6%
Field Effect
5%
Amorphous Material
5%
Laser Annealing
5%
Gas
5%
Threading Dislocation
5%
Hall Effect
5%
Time
5%