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2022
Integrated GaN HEMT Cascode Power Module Stability Analysis under Negative Gate Bias Stress for Power Electronic Applications
Elangovan, S., Jang, W. Y., Cheng, S. & Yao, J. H., 1 9月 2022, 於: IFAC-PapersOnLine. 55, 27, p. 282-286 5 p.研究成果 › 同行評審
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