每年專案
個人檔案
研究專長
半導體元件可靠性、快閃式記憶元件、高速元件與電路
經歷
1987/08 國立交通大學電子工程學系電子研究所教授
教育/學術資格
PhD, 電機工程, University of Illinois at Urbana-Champaign
外部位置
指紋
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- 1 類似的個人檔案
網路
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專案
- 25 已完成
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電阻式記憶體SET/RESET循環操作後資料儲存時間退化與加速測試方法及其理論與統計模式
1/08/20 → 31/10/21
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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電阻式記憶體SET/RESET循環操作後資料儲存時間退化與加速測試方法及其理論與統計模式
1/08/19 → 31/10/20
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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Simulation of read-disturb-induced inference accuracy degradation in an RRAM-based neuromorphic circuit
Jiang, C. M., Hsu, C. A. & Wang, T., 2月 2023, 於: Journal of Computational Electronics. 22, 1, p. 596-600 5 p.研究成果: Article › 同行評審
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Interfacial-Layer Design for Hf1-xZrxO2-Based FTJ Devices: From Atom to Array
Chiang, H. L., Wang, J. F., Lin, K. H., Nien, C. H., Wu, J. J., Hsiang, K. Y., Chuu, C. P., Chen, Y. W., Zhang, X. W., Liu, C. W., Wang, T., Wang, C. C., Lee, M. H., Chang, M. F., Chang, C. S. & Chen, T. C., 2022, 2022 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits, VLSI Technology and Circuits 2022. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., p. 361-362 2 p. (Digest of Technical Papers - Symposium on VLSI Technology; 卷 2022-June).研究成果: Conference contribution › 同行評審
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An Analytical Model of Read-Disturb Failure Time in a Post-Cycling Resistive Switching Memory
Jiang, C. M., Wang, C. C., Li, K. S., Lin, C. C. & Wang, T., 2021, (Accepted/In press) 於: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability.研究成果: Article › 同行評審
1 引文 斯高帕斯（Scopus） -
Investigation of Vth Distribution Tails of Ground-Select-Line Cells and Edge Dummy Cells in a 3-D NAND Flash Memory
Chou, Y. L., Wang, T., Cheng, C. C., Lu, C. C., Wu, G. W., Ku, S. H., Chang, W., Tsai, W. J., Lu, T. C., Chen, K. C. & Lu, C. Y., 5月 2021, 於: IEEE Transactions on Electron Devices. 68, 5, p. 2260 - 2264 5 p.研究成果: Article › 同行評審
2 引文 斯高帕斯（Scopus） -
Analytical Modeling of Read-Induced SET-State Conductance Change in a Hafnium-Oxide Resistive Switching Device
Su, P. C., Jiang, C. M., Chen, Y. J., Wang, C. C., Li, K. S., Lin, C. C. & Wang, T., 1月 2020, 於: IEEE Transactions on Electron Devices. 67, 1, p. 113-117 5 p., 8935500.研究成果: Article › 同行評審
2 引文 斯高帕斯（Scopus）