跳至主導覽
跳至搜尋
跳過主要內容
國立陽明交通大學研發優勢分析平台 首頁
English
中文
在 國立陽明交通大學研發優勢分析平台 搜尋內容
首頁
人員
單位
研究成果
計畫
獎項
活動
貴重儀器
影響
查看斯高帕斯 (Scopus) 概要
劉 柏村
教授
光電工程學系
https://orcid.org/0000-0001-8560-3668
電話
03-5712121#52994
電子郵件
ptliu
nycu.edu
tw
網站
http://www.ieo.nctu.edu.tw/addtspl/News.html
h-index
h10-index
h5-index
6123
引文
40
h-指數
按照存儲在普爾（Pure）的出版物數量及斯高帕斯（Scopus）引文計算。
1296
引文
21
h-指數
按照存儲在普爾（Pure）的出版物數量及斯高帕斯（Scopus）引文計算。
330
引文
11
h-指數
按照存儲在普爾（Pure）的出版物數量及斯高帕斯（Scopus）引文計算。
1996 …
2026
每年研究成果
概覽
指紋
網路
計畫
(27)
研究成果
(427)
獎項
(9)
類似的個人檔案
(6)
指紋
查看啟用 Po-Tsun Liu 的研究主題。這些主題標籤來自此人的作品。共同形成了獨特的指紋。
排序方式
重量
按字母排序
Material Science
Thin-Film Transistor
100%
Film
52%
Oxide Compound
38%
Indium
31%
Dielectric Material
29%
Silicon
28%
Zinc Oxide
19%
Tungsten
17%
Permittivity
15%
Hydrogen
15%
Thin Films
15%
Transistor
14%
Annealing
14%
Nanocrystals
14%
Density
13%
Silsesquioxane
13%
Supercritical Fluid
12%
Nanowire
10%
Nitride Compound
10%
Electronic Circuit
9%
Gallium
9%
Tin Oxide
8%
Oxygen Vacancy
8%
Oxide Semiconductor
8%
ZnO
7%
Germanium
6%
Amorphous Silicon
6%
Electrical Property
6%
Capacitance
6%
Capacitor
5%
Silicon Nitride
5%
Memory Effect
5%
Metal Oxide
5%
Keyphrases
Thin-film Transistors
39%
Polycrystalline Silicon Thin-film Transistors (poly-Si TFTs)
22%
Amorphous InGaZnO (a-IGZO)
19%
Oxide Thin-film Transistors
17%
Electrical Characteristics
17%
A-Si
13%
Threshold Voltage
12%
High Performance
10%
Hydrogen Silsesquioxane
9%
Supercritical Fluid
9%
Subthreshold Swing
8%
Gate Driver
8%
Annealing
8%
Leakage Current
8%
Non-volatile Memory
8%
Nanowire Channel
8%
Conductive Bridging Random Access Memory (CBRAM)
8%
Memory Device
8%
Resistive Switching
7%
Memory Application
7%
Low Dielectric Constant
7%
Passivation Layer
6%
Low Temperature
6%
Plasma Treatment
6%
Oxygen Vacancy
6%
Source/drain
6%
Nanocrystals
6%
Amorphous Silicon Thin-film Transistor
6%
Indium Zinc Oxide
6%
Memory Window
6%
Nonvolatile Memory Devices
6%
TFT-LCD
6%
Threshold Voltage Shift
6%
Gate Insulator
5%
H TFT
5%
On-state Current
5%
Nitrided Oxide
5%
Electrical Performance
5%
Charge Storage
5%
Field-effect Mobility
5%
Dielectric
5%
Silica
5%
Memory Effect
5%
Transistor
5%
Resistive Random Access Memory (ReRAM)
5%
Active-matrix Organic Light-emitting Diode (AMOLED)
5%
Pixel Circuit
5%
Display Applications
5%
Zinc Oxide Thin Films
5%
Oxide Nitride
5%
Engineering
Thin film transistors
62%
Polysilicon
20%
Transistor
10%
Low-Temperature
9%
Supercritical Fluid
7%
Driver Circuit
7%
Resistive
6%
Liquid Crystal Display
6%
Dielectrics
5%
Hydrogenated Amorphous Silicon
5%
Nanowire
5%
Oxide Semiconductor
5%
