每年研究成果
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2003
RF characterization of metal T-gate structure in fully-depleted SOI CMOS technology
Lam, S., Wan, H., Su, P., Wyatt, P. W., Chen, C. L., Niknejad, A. M., Hu, C.-M., Ko, P. K. & Chan, M., 1 4月 2003, 於: Ieee Electron Device Letters. 24, 4, p. 251-253 3 p.研究成果: Letter › 同行評審
10 引文 斯高帕斯（Scopus） -
2002
Enhanced substrate current in SOI MOSFETs
Su, P., Goto, K. I., Sugii, T. & Hu, C.-M., 5月 2002, 於: Ieee Electron Device Letters. 23, 5, p. 282-284 3 p.研究成果: Letter › 同行評審
18 引文 斯高帕斯（Scopus）