趙 家佐

專案

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每年專案

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  降低客退率之機器學習技術與自動化測試向量產生方法(II)

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/08/24 → 31/07/25

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 已完成

  降低客退率之機器學習技術與自動化測試向量產生方法(II)

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/08/23 → 31/07/24

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 基於強化學習之多層障礙物排除直角史坦納最小樹繞線器

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/08/23 → 31/07/24

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 降低客退率之機器學習技術與自動化測試向量產生方法(II)

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/08/22 → 31/07/23

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 基於強化學習之多層障礙物排除直角史坦納最小樹繞線器

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/08/22 → 31/07/23

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 能滿足擺放區域限制之2.5D IC裸晶擺置方法與模塊擺置後優化流程(2/2)

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/04/22 → 31/03/23

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 降低客退率之機器學習技術與自動化測試向量產生方法(1/4)

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/08/21 → 31/07/22

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 應用於IDDQ測試之EDA軟體與機器學習平台(3/3)

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/01/21 → 31/03/22

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 最佳化感知電壓下降時序之自動化電源網絡產生

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/08/20 → 31/07/21

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 應用於IDDQ測試之EDA軟體與機器學習平台(2/3)

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/01/20 → 31/12/20

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 最佳化感知電壓下降時序之自動化電源網絡產生

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/08/19 → 31/07/20

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 快於一次量測每待測元件之臨界電壓WAT測試結構

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/08/19 → 31/07/20

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 應用於IDDQ測試之EDA軟體與機器學習平台(1/3)

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/01/19 → 31/12/19

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 快於一次量測每待測元件之臨界電壓WAT測試結構

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/08/18 → 31/07/19

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 從環繞於IC設計與製造資料所發展的智慧製造設計自動化研究-子計畫五：資料分析平台用於以晶片偵測器為依據之速度分級

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/08/18 → 31/07/19

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 快於一次量測每待測元件之臨界電壓WAT測試結構

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/08/17 → 31/07/18

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 從環繞於IC設計與製造資料所發展的智慧製造設計自動化研究-子計畫五：資料分析平台用於以晶片偵測器為依據之速度分級

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/08/17 → 31/07/18

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 從環繞於IC設計與製造資料所發展的智慧製造設計自動化研究-子計畫五：資料分析平台用於以晶片偵測器為依據之速度分級

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/08/16 → 31/07/17

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 鰭狀場效電晶體 (FinFET) 電路之錯誤模型與測試方法

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/08/15 → 31/07/16

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 以資料分析為導向之新型態電子設計自動化研究-子計畫六：應用於最低操作電壓認定與系統錯誤預測之資料探勘平台(2/2)

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/05/15 → 30/04/16

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 鰭狀場效電晶體 (FinFET) 電路之錯誤模型與測試方法

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/08/14 → 31/07/15

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 以資料分析為導向之新型態電子設計自動化研究-子計畫六：應用於最低操作電壓認定與系統錯誤預測之資料探勘平台(1/2)

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/05/14 → 30/04/15

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 鰭狀場效電晶體 (FinFET) 電路之錯誤模型與測試方法

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/08/13 → 31/07/14

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 平行運算電子設計自動化技術研究-子計畫六：平行化多核心系統測試方法(3/3)

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/05/13 → 31/07/14

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 平行運算電子設計自動化技術研究-子計畫六：平行化多核心系統測試方法(2/3)

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/05/12 → 30/04/13

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 平行運算電子設計自動化技術研究-子計畫六：平行化多核心系統測試方法(1/3)

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/05/11 → 30/04/12

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 針對粗顆粒多重臨界電壓CMOS技術之電源開關繞線

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/08/10 → 31/07/11

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 嵌入式DRAM測試方法

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/08/09 → 31/07/10

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 解決工程改變中所產生之輸入扭轉違規與輸出負載違規

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/08/09 → 31/07/10

  研究計畫: Other Government Ministry Institute

• 利用重新排列掃描元件減低掃描位移功率

  Chao, M.C.-T. (PI)

  1/08/08 → 31/07/09

  研究計畫: Other Government Ministry Institute