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已完成
考慮老化效應之軟性電子錯誤消除鎖存器(SEM-Latch)設計
Wen, H.-P. (PI)
1/08/22 → 31/07/23
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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提出軟性電子錯誤可復原之D型正反器(SERD-FF)與其組態最佳化演算法(OPAC)以強化電路設計之抗輻射能力
Wen, H.-P. (PI)
1/08/21 → 31/07/22
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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針對智慧型車用晶片之前瞻性【以資料為驅動力之可靠度與測試方法】研究-子計畫三:為抑制軟性電子延遲與錯誤率應用機器學習強化超大型積體電路設計的抗輻射能力(I)
Wen, H.-P. (PI)
1/08/19 → 31/07/20
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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107學年度大專校院創新創業扎根計畫-大專校院創業實戰模擬學習平臺
Wen, H.-P. (PI)
6/05/19 → 6/07/19
研究計畫: Ministry of Education(Include School)
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本校執行重點產業高階人才培訓與就業計畫(107R029)媒合獎勵金
Wen, H.-P. (PI)
1/02/19 → 31/12/19
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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布局圖上考慮多重瞬態故障的軟性電子錯誤率分析與最佳化
Wen, H.-P. (PI)
1/08/17 → 31/07/18
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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智慧聯網技術與應用人才培育計畫之106年度磨課師課程發展計畫-物聯網基礎程式設計:應用Ameba 板
Wen, H.-P. (PI)
1/07/17 → 30/06/18
研究計畫: Ministry of Education(Include School)
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布局圖上考慮多重瞬態故障的軟性電子錯誤率分析與最佳化
Wen, H.-P. (PI)
1/08/16 → 31/07/17
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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布局圖上考慮多重瞬態故障的軟性電子錯誤率分析與最佳化
Wen, H.-P. (PI)
1/08/15 → 31/07/16
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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以資料分析為導向之新型態電子設計自動化研究-子計畫五:奈米級CMOS電路設計之IDDQ量測資料知識探索與挖掘(2/2)
Wen, H.-P. (PI)
1/05/15 → 30/04/16
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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應用於車用CAN控制協定設計上的統計性軟性電子錯誤率分析與最佳化
Wen, H.-P. (PI)
1/08/14 → 31/07/15
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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以資料分析為導向之新型態電子設計自動化研究-子計畫五:奈米級CMOS電路設計之IDDQ量測資料知識探索與挖掘(1/2)
Wen, H.-P. (PI)
1/05/14 → 30/04/15
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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應用於車用CAN控制協定設計上的統計性軟性電子錯誤率分析與最佳化
Wen, H.-P. (PI)
1/08/13 → 31/07/14
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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平行運算電子設計自動化技術研究-子計畫五:在處理器陣列與多電腦系統上的平行化測試向量產生演算法設計(3/3)
Wen, H.-P. (PI)
1/05/13 → 31/07/14
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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應用於車用CAN控制協定設計上的統計性軟性電子錯誤率分析與最佳化
Wen, H.-P. (PI)
1/08/12 → 31/07/13
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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平行運算電子設計自動化技術研究-子計畫五:在處理器陣列與多電腦系統上的平行化測試向量產生演算法設計(2/3)
Wen, H.-P. (PI)
1/05/12 → 30/04/13
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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智慧電子自動化設計(EDA)課程發展計畫-車用電子可靠度分析與設計最佳化
Wen, H.-P. (PI)
1/10/11 → 31/01/13
研究計畫: Ministry of Education(Include School)
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平行運算電子設計自動化技術研究-子計畫五:在處理器陣列與多電腦系統上的平行化測試向量產生演算法設計(1/3)
Wen, H.-P. (PI)
1/05/11 → 30/04/12
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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針對3D整合之電子設計自動化技術開發-子計畫五:應用在驗證與測試3D IC整合過程中以計算智慧為基礎的測試向量產生方法(2/2)
Wen, H.-P. (PI)
1/08/10 → 31/07/11
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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後次微米時代新興電子設計自動化技術之研究-子計畫四:應用計算智慧推理處理後深次微米時代電路設計上的可靠度挑戰(3/3)
Wen, H.-P. (PI)
1/08/10 → 31/10/11
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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針對3D整合之電子設計自動化技術開發-子計畫五:應用在驗證與測試3D IC整合過程中以計算智慧為基礎的測試向量產生方法(1/2)
Wen, H.-P. (PI)
1/08/09 → 31/07/10
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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後次微米時代新興電子設計自動化技術之研究-子計畫四:應用計算智慧推理處理後深次微米時代電路設計上的可靠度挑戰(2/3)
Wen, H.-P. (PI)
1/08/09 → 31/07/10
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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應用知識發現與資料探勘技術的功能性測試向量產生方法設計(2/2)
Wen, H.-P. (PI)
1/08/08 → 31/07/09
研究計畫: Other Government Ministry Institute
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後次微米時代新興電子設計自動化技術之研究-子計畫四:應用計算智慧推理處理後深次微米時代電路設計上的可
Wen, H.-P. (PI)
1/08/08 → 31/07/09
研究計畫: Other Government Ministry Institute